Veo相控陣超聲波探傷儀

Veo相控陣超聲波探傷儀提升了Sonatest公司在創(chuàng)新技術(shù)產(chǎn)品研發(fā)領(lǐng)域的聲譽(yù)。Veo操作簡(jiǎn)單、高性能、功能先進(jìn)、附件健全，可使用在任何領(lǐng)域。超聲波相控陣是一項(xiàng)成熟的無損檢測(cè)技術(shù)，典型的應(yīng)用包括焊縫檢測(cè)、裂紋檢查、腐蝕檢測(cè)、宇航領(lǐng)域和復(fù)合材料。

veo 16:64概述

Veo堅(jiān)固耐用的特點(diǎn)、直觀的操作界面和強(qiáng)大的幫助功能使相控陣成為基礎(chǔ)測(cè)技術(shù)。

采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動(dòng)流程。完整幫助及導(dǎo)向功能在設(shè)置時(shí)同步最優(yōu)化，確保veo效率達(dá)到最高。

可按照標(biāo)準(zhǔn)快速高效地設(shè)置聲速、鍥塊、TCG曲線、DAC曲線及TOFD功能。

Veo平臺(tái)使便攜式探傷儀提升到一個(gè)新的水平，幫助操作者在現(xiàn)場(chǎng)將效率達(dá)到最高。探頭在工件上所處的位置信息可以2D和3D模式顯示，使檢測(cè)設(shè)置簡(jiǎn)單化并提供檢測(cè)報(bào)告作為參考。使用最新的電腦數(shù)據(jù)技術(shù)可永久保存操作數(shù)據(jù)及檢測(cè)報(bào)告。

更多信息及更新請(qǐng)?jiān)L問Sonatest veo microsite.

veo 64:16技術(shù)參數(shù)

相控陣

配置：16:64（16脈沖發(fā)生/接收器，上升至64元素）

探頭插座：I-PEX

脈沖電壓：-50V到-100V（10V步進(jìn)）

數(shù)據(jù)采集

結(jié)構(gòu)：全數(shù)字延遲和求和結(jié)構(gòu)

采樣率：50/100MHz

數(shù)據(jù)分辨率：12 bits

數(shù)據(jù)處理：16 bits

數(shù)據(jù)記錄：全部原始數(shù)據(jù)記錄

最大A掃描長(zhǎng)度：8192個(gè)采樣（32米，LW鋼，采樣率50MHz，輔助采樣1:128）

掃描與顯示

支持掃描：S掃描 和 L掃描

實(shí)時(shí)顯示：S，L，B，C掃描，頂視圖和端視圖

彩色表：8個(gè)標(biāo)準(zhǔn)（彩虹色，灰度表，光譜色及自定義等）

多重組合：多重扇形掃描和TOFD掃描

接收器

增益范圍：102dB（-30dB 至 72dB）

濾波器帶寬：窄頻帶，中心頻率0.5 MHz, 1 MHz, 2.25 MHz 5 MHz, 10 MHz 和 15 MHz；寬頻帶，1 MHz 至 18 MHz (-6dB)。

常規(guī)的和相控陣

DAC

DAC數(shù)量：1帶3個(gè)附屬DAC（相控陣的每個(gè)焦點(diǎn)規(guī)則）

時(shí)間校正增益（TCG）

閘門

A掃描閘門：每個(gè)A掃描4個(gè)閘門（每個(gè)S/L掃描有3個(gè)提取的A掃描）

閘門觸發(fā)：前沿/峰值

S/L掃描：每個(gè)S/L掃描有2個(gè)“2D閘門”

光報(bào)警：1（所有的閘門和DAC同步）

測(cè)量：在S掃描視圖下可用

      1D峰值(FSH, dB, D, BPL, SD)

      1D前沿(FSH, dB, D, BPL, SD)

回波-回波

veo 16:64 附件

防濺鍵盤

防水鼠標(biāo)

充電器

三腳架

鋰電池組

UT Studio專業(yè)版

快速編碼器

Rapidscan至veo的編碼器適配器

DAAH陣列式探頭電纜

USB記憶棒

相控陣測(cè)試塊（鋼）

相控陣測(cè)試塊（鋁）

更多veo可選附件請(qǐng)見宣傳冊(cè)詳細(xì)信息

veo套裝

veo & Magman 掃描器

veo & 腐蝕檢測(cè)滾輪探頭

veo & 手動(dòng)TOFD

veo & 手動(dòng)焊縫檢測(cè)