產品描述:
型號:mEDX-1200 mEDX-1300 mEDX-1400
過去的X射線熒光光譜儀難以高靈敏度地分析很小的樣品。對于因分辨率不足即使X射線強度足夠也難以進行的電子部件、電路板以及食品中的異物等微小局部的測定,本裝置可進行高靈敏度、高分辨率、分析直徑最小至50mm的分析。
●測定原理 x射線熒光分析法
●測定方法 能量散射型
●測定對象 固體、液體、粉體
●測定范圍 13AI ~ 92U(mEDX-1200) 11Na ~ 92U(mEDX-1300) 13AI ~ 92U(mEDX-1400)
●x射線管 Rh靶
●檢測器 Si(Li)半導體檢測器 (mEDX-1200,1300),Si漂移半導體 檢測器(mEDX-1400)
●樣品型狀 最大150mm×150mm×40mmH
技術參數: