電制冷 探測(cè)器的 射線儀
ElSiX系統(tǒng)采用電制冷冷卻,可以進(jìn)行X射線熒光分析、X射線雙色層分析儀和X射線能譜儀,適用于液氮制冷方法無(wú)法或者禁止使用的領(lǐng)域。全套系統(tǒng)包括:Si(Li)探測(cè)器、壓縮單元和氣體連接線。
特征
□ 無(wú)液氮冷卻 □ 高能量分辨率
□ 薄鈹窗 □ 任何空間方位的檢測(cè)
□ 斷電后的自動(dòng)重啟 □ 長(zhǎng)期持續(xù)功能
□ 設(shè)計(jì)緊湊重量輕
技術(shù)參數(shù)
□ 能量范圍:1~60keV
□ 能量為5.9keV時(shí)的分辨率:
■ 16μs的成峰時(shí)間:138keV
■ 1μs的成峰時(shí)間:268keV
■ 記數(shù)率為105cps,成峰時(shí)間1μs:275keV
□ 峰/本底的比率:>4000
□ 冷卻時(shí)間:3小時(shí)
□ 環(huán)境溫度:-5℃~+38℃ □ 操作模式:持續(xù)測(cè)量
□ 方位空間的限制:任意
□ 電壓/頻率:220V/50Hz
□ 功率:<60W
□ 尺寸:
■ 檢測(cè)單元:80×135×150mm
■ 壓縮單元:140×160×300mm
□ 重量:
■ 檢測(cè)單元:1.8kg
■ 壓縮單元:7.5kg
□ 工作的使用壽命(平均無(wú)故障時(shí)間):85000小時(shí)