技術(shù)規(guī)格 | |
重量 |
1.5kg |
尺寸 |
30cm(L)x10cm(W)x28cm(H) |
激發(fā)源 |
X射線管,Ag靶,40kV |
檢測器 |
XFlash®硅漂移檢測器(SDD), 檢測速度快;
能量分辨率高:145eV, 計數(shù)率:100 kcps |
操作系統(tǒng) |
HP掌上電腦:Windows Mobile5.0
Bruker 專用軟件 |
冷卻系統(tǒng) |
Peltier半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) |
電源 |
交、直流供電;2塊充電鋰電池,可連續(xù)工作8-12小時 |
工作條件 |
濕度范圍:-20℃~+55℃ 濕度范圍:0~95% |
電池充電器 |
交流充電器:110/220V,50/60Hz |
計算機/顯示器 |
240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調(diào); 觸摸屏 |
測量模式
樣品表面溫度 |
牌號識別、定量分析、顯示測量譜線、合格與否判定
使用熱表面適配器,最高可測500℃高溫件 |
數(shù)據(jù)傳輸 |
USB,無線藍牙,SD卡 |
數(shù)據(jù)存儲 |
主機:512MB
存儲卡:CF/SD卡,2GB,能存儲幾十萬個牌號和測量數(shù)據(jù) |
安全 |
密碼保護,設(shè)有多級安全鎖 |
運輸箱 |
減震、抗壓、防水、密封儀器箱 |
支持語言 |
包括中、英文在內(nèi)共12種語言(用戶自選) |
質(zhì)保期
獲得認(rèn)證 |
2年
CE、TUV、ISO9001、IECEE |